스위스 제네바에 본부를 두고 있는 국제표준화기구(ISO)에서 활동 중인 기술위원회(Technical Committeee, TC)는 TC 1~TC 323까지 구성돼 있다.

기술위원회의 역할은 기술관리부가 승인한 작업범위 내 작업 프로그램 입안, 실행, 국제규격의 작성 등이다. 또한 산하 분과위원회(SC), 작업그룹(WG)을 통해 기타 ISO 기술위원회 또는 국제기관과 연계한다.

ISO/IEC 기술작업 지침서 및 기술관리부 결정사항에 따른 ISO 국제규격안 작성·배포, 회원국의 의견 편집 등도 처리한다. 소속 분과위원회 및 작업그룹의 업무조정, 해당 기술위원회의 회의 준비도 담당한다.

1947년 최초로 구성된 나사산에 대한 TC 1 기술위원회를 시작으로 순환경제를 표준화하기 위한 TC 323까지 각 TC 기술위원회의 의장, ISO 회원, 발행 표준 및 개발 표준 등에 대해 살펴볼 예정이다.

이미 다룬 기술위원회와 구성 연도를 살펴 보면 △1947년 TC 1~TC 67 △1948년 TC 69 △1949년 TC 70~72 △1972년 TC 68 △1950년 TC 74 △1951년 TC 76 △1952년 TC 77 △1953년 TC 79, TC 81 △1955년 TC 82, TC 83 △1956년 TC 84, TC 85 △1957년 TC 86, TC 87, TC 89 △1958년 TC 91, TC 92 △1959년 TC 94 △1960년 TC 96, TC 98 △1961년 TC 101, TC 102, TC 104 등이다.

또한 △1962년 TC 105~TC 107 △1963년 TC 108~TC 111 △1964년 TC 112~TC 115, TC 117 △1965년 TC 118  △1966년 TC 119~TC 122 △1967년 TC 123 △1968년 TC 126, TC 127 △1969년 TC 130~136 △1970년 TC 137, TC 138, TC 142, TC 145 △1971년 TC 146, TC 147, TC 148, TC 149, TC 150, TC 153 △1972년 TC 154 △1973년 TC 155 △1974년 TC 156~TC 161 △1975년 TC 162~TC 164 등도 포함된다.

그리고 △1976년 TC 165, TC 166 △1977년 TC 167, TC 168, TC 170 △1978년 TC 171, TC 172, TC 173, TC 174 △1979년 TC 176, TC 178 △1980년 TC 180, TC 181 △1981년 TC 182 △1983년 TC 183~TC 186 △1984년 TC 188 △1985년 TC 189, TC 190, TC 191 △1988년 TC 192~TC 194 △1989년 TC 195 △1990년 TC 197, TC 198 등이 있다.

ISO/TC 202 미세선속 분석(Microbeam analysis)과 관련된 기술위원회는 TC 199, TC 201와 마찬가지로 1991년 결성됐다. 사무국은 중국 국가표준화관리위원회(国家标准化管理委员会, Standardization Administration of the P. R. C, SAC)에서 맡고 있다.

위원회는 닝 자오(Mr Ning Zhao)가 책임지고 있다. 현재 의장은 지앙 자오(Mr Jiang Zhao)이며 임기는 2024년말 까지다.

ISO 기술 프로그램 관리자는 스테판 소바(M Stéphane Sauvage), ISO 편집 관리자는 아룬 ABY 파라에카티(Mr Arun ABY Paraecattil) 등이다.

범위는 입사빔으로 전자를 사용하고 감지 신호로 전자와 광자를 사용하는 마이크로빔 분석(측정, 매개변수, 방법 및 기준 물질) 분야의 표준화다.

참고로 고체재료의 구성 및 구조적 특성을 분석하는 것이 목적이다. 분석량은 일반적으로 최대 10마이크로미터의 깊이와 100제곱마이크로미터 미만의 표면적을 포함한다.

현재 ISO/TC 202 사무국과 관련해 발행된 표준은 30개며 ISO/TC 202 사무국의 직접적인 책임 하에 발행된 표준은 9개다.

ISO/TC 202 사무국과 관련해 개발 중인 표준은 5개다. 참여하고 있는 회원은 9개국, 참관 회원은 13개국이다.

□ ISO/TC 202 사무국의 직접적인 책임 하에 발행된 표준 9개 목록

▷ISO 5820:2024 Microbeam analysis — Hyper-dimensional data file specification (HMSA)

▷ISO 13067:2020 Microbeam analysis — Electron backscatter diffraction — Measurement of average grain size

▷ISO 15632:2021 Microbeam analysis — Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers (EDS) for use with a scanning electron microscope (SEM) or an electron probe microanalyser (EPMA)

▷ISO 20720:2018 Microbeam analysis — Methods of specimen preparation for analysis of general powders using WDS and EDS

▷ISO 22029:2022 Microbeam analysis — EMSA/MAS standard file format for spectral-data exchange

▷ISO 22309:2011 Microbeam analysis — Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS) for elements with an atomic number of 11 (Na) or above

▷ISO 23703:2022 Microbeam analysis — Guidelines for misorientation analysis to assess mechanical damage of austenitic stainless steel by electron backscatter diffraction (EBSD)

▷ISO 23749:2022 Microbeam analysis — Electron backscatter diffraction — Quantitative determination of austenite in steel

▷ISO 24173:2024 Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction

□ ISO/TC 202 사무국 분과위원회(Subcommittee)의 책임 하에 발행 및 개발 중인 표준 현황

▷ISO/TC 202/SC 1 Terminology ; 발행된 표준 3개, 개발 중인 표준 1개

▷ISO/TC 202/SC 2 Electron probe microanalysis ; 발행된 표준 8개, 개발 중인 표준 1개

▷ISO/TC 202/SC 3 Analytical electron microscopy ; 발행된 표준 6개, 개발 중인 표준 3개

▷ISO/TC 202/SC 4 Scanning electron microscopy ; 발행된 표준 4개, 개발 중인 표준 0개